针对PTN设备同步测试解决方案 首选XG7010

自2009年，中国移动通信集团公司率先在现网中部署PTN设备以来，经过两年的推广及实际网络的应有，PTN产业已经迅速发展起来。国内的各大通信设备制造商推出了一系列PTN产品及设备解决方案，有效地推动了PTN设备市场的发展进程。目前国内提供PTN设备的通信设备制造商主要有华为技术、中兴通讯、烽火科技、阿尔卡特朗讯、武汉日电等公司。

深圳市夏光通信测量技术有限公司，推出中国第一款支持移动IEEE1588时频同步的专用仪表——XG7010 IEEE1588时间分析仪，不但可以有效提供PTN网络同步性能的现场施工、验收和维护测试解决方案，还根据PTN设备制造商的实际情况，有针对性地研制开发了一些功能，满足在工厂环境下的PTN设备同步性能的测试。

同步测试包括时钟测试和时间测试，还可通过网管系统与仪表配合完成PTN设备相关的同步性能验证工作。

以下，我们针对XG7010的功能特点在工厂环境下的PTN设备同步性能的测试进行逐一说明，并提出PTN设备同步测试在研发、生产、厂验、工程维护等不同环节情况下测试关注的要点。

时钟同步功能测试验证

时钟同步功能验证主要进行PTN设备2Mb/s时钟输出的精度和漂移特性等。XG7010既可以作为时钟源输出时钟信号到PTN设备中，还可以从PTN设备2Mb/s时钟输出口进行测试，而且还可以测试PTN设备FE接口的频率精度，验证PTN设备的时钟同步性能。

PTN设备2Mb/s时钟信号测试

在工厂环境下，XG7010可以不外接GPS天线进行铷原子钟驯服，直接用XG7010内置的铷原子钟的信号作为时钟参考源输入PTN设备，从PTN设备的时钟输出接口测试时钟信号的精度及漂移特性，测试的结果是一个相对值。单套PTN设备测试连接如图1所示。

图1 单PTN设备2Mb/s时钟测试

按照图1的连接方式，可以验证PTN设备在外接时钟源情况下，PTN设备的时钟锁定情况、工作方式，XG7010选择时钟测试或时钟漂移测试功能，可测试PTN设备2Mb/s时钟信号输出的偏差值，或者进行长期的时钟漂移性能的测试，检测时钟信号的质量。

还可以无需用XG7010对PTN设备输入时钟信号，PTN设备选择内部时钟方式，测试PTN设备时钟输出的频偏。

此外，还可以搭建一个点对点PTN设备的连接方式，进行时钟同步的测试，测试连接如图2所示。可测试时钟信号从本端PTN设备输入经过光纤传输后，在远端的PTN设备输出，检查时钟信号频偏的变化。

图2 点对点PTN设备2Mb/s时钟测试

时钟漂移可以测试时钟的短期稳定性，计算ADEV，也可以进行长期监测，将测试结果上传计算机，通过专用软件计算出MTIE以及TDEV，对时钟同步的长期稳定性做出评估，并可按照G.811、G.812、G.813等模版进行比对。

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PTN设备FE接口频率测试

XG7010不但可以测试2Mb/s时钟信号，还可以直接从PTN设备以太网接口测试时钟频率。测试连接如图3所示。

图3 以太网时钟频率测试

XG7010可测试PTN设备FE以太网接口时钟频率及偏差，可检测同步以太网技术下时钟传输的性能。测试接口可以是光接口或者电接口。

时间同步测试验证

业务信息和时间信息通过PTN网络混合传输，XG7010提供10/100M PTP同步光/电接口，可将XG7010设置为PTP（Slave）模式，直接从PTN的以太网接口接收IEEE1588数据，解析出相关时间信息，或者直接与1PPS或1PPS+TOD时间同步接口连接测量时间偏差。此外，还可利用XG7010 IEEE1588时间分析仪的BITS仿真功能，为PTN设备提供高精度带内或带外的时间源，对PTN设备时间同步性能进行评估。

PTN设备时间同步性能的测试

XG7010可以作为时间源，通过时间带内接口向PTN设备注入时间信息，同时通过PTN带外或带内接口测试时间信息经过PTN设备后的相对偏差。测试连接如图4a、图4b所示。

图4a 带内时间信息测试

图4b 带外时间信息测试

在带外时间信息测试模式下，如图4a，XG7010可对TOD报文进行解析，直接显示在仪表LCD屏幕上，用户可以直接查看。

XG7010可设置为PTP（Master）工作模式，通过时间带外接口向PTN设备注入时间信息，同时通过PTN带内接口测试时间信息经过PTN设备后的相对偏差。测试连接如图5所示。

图5 PTP（Master）工作模式带内时间信息测试

上述XG7010的测试模式，对PTN设备的测试带来了十分的便利，仅仅只通过一套仪表即可完成不同时间信息源的注入，实现时间带内或带外接口的测试，大大简化了时间同步测试的系统搭建。